Używamy plików cookies, by ułatwić korzystanie z naszych serwisów.
Jeśli nie chcesz, by pliki cookies były zapisywane na Twoim dysku zmień ustawienia swojej przeglądarki.

Szukaj w:
[x]
Prawo
[x]
Ekonomia i biznes
[x]
Informacje i opinie
ZAAWANSOWANE

Płytki do kontroli

26 czerwca 2003 | Nauka i Technika | NP

Dwa pomiary w jednym systemie

Płytki do kontroli

Nowoczesne urządzenia półprzewodnikowe, np. układy scalone, wymagają bardzo precyzyjnego określenia właściwości płytek krzemowych, a konkretnie naniesionych na nie warstw półprzewodnikowych. Precyzję taką gwarantuje opracowany przez polskich specjalistów system pomiarowo-informatyczny kontrolujący jakość wytwarzania tych warstw.

Ponieważ płytki są materiałem wyjściowym do produkcji skomplikowanych urządzeń elektronicznych, ich jakość w dużym stopniu decyduje o jakości ostatecznego produktu. System opracowany przez zespół Przemysłowego Instytutu Elektroniki, przy...

Dostęp do treści Archiwum.rp.pl jest płatny.

Archiwum Rzeczpospolitej to wygodna wyszukiwarka archiwalnych tekstów opublikowanych na łamach dziennika od 1993 roku. Unikalne źródło wiedzy o Polsce i świecie, wzbogacone o perspektywę ekonomiczną i prawną.

Ponad milion tekstów w jednym miejscu.

Zamów dostęp do pełnego Archiwum "Rzeczpospolitej"

Zamów
Unikalna oferta
Brak okładki

Wydanie: 2958

Spis treści
Zamów abonament